MP300TC3(接触型)

ICカード検査装置

MP300TC3
接触型 スマートカードテスター

MP300 TC3は、コンタクトスマートカードとセキュアエレメントのテストの世界標準です。 世界中の何百ものユニットに出荷され、数多くのテスト機能により、このツールのコンポーネントの特性評価や検証ラボでのタイプ承認に理想的です。

  • 主な機能
  • 対応プロトコル
  • プログラム可能なパラメータ
  • スパイ機能
  • 利用可能な試験

MP300TC3の主な機能

  • ISO 7816、SWP / HCI、I2C、SPI、USB 2.0、USB-ICプロトコルに従った端末シミュレーション
  • ID-1スマートカード、SIMおよびU-SIMコンポーネント、eSIMおよびM2Mモジュールのテストが可能
  • ISO 7816(ISO 10373-3)のテスト仕様の要件と完全に互換性があります。
  • ETSI TS 102 613およびTS 102 622の仕様を完全にサポート
  • それ自身と被試験デバイスとの間の通信を記録し、スパイされたデータのグラフィック表示を提供する
  • 外部スパイモードも利用可能
  • 物理パラメータとプロトコルパラメータのカスタマイズが可能
  • 多数の測定機能とテスト実装:電流、電圧、オープン/ショート、容量、…
  • 多数の試験規格の基準テスター:EMVCo L1電気およびプロトコル、ISO 7816-3、ETSI TS 102 613およびTS 102 622

MP300TC3の対応プロトコル

ISO/IEC 7816-3
  • T=0 and T=1 protocols : 100% implemented, managed by Firmware and FPGA, accelerated by hardware
SWP/HCI (ETSI TS 102.613 and ETSI TS 102.622)
  • SWP transmission : Assisted by hardware
  • LLC layers support : ACT, CLT, S-HDLC realised by firmware
USB-IC
USB 2.0
  • Available speeds : Low speed, full speed
  • Classes : ISO/IEC 7816-12, mass storage, custom protocols
I2C

modes supported :

  • Standard mode
  • Fast mode
  • Fast mode plus
  • Supports clock stretching, multi master arbitration, anti tearing
  • Programmable parameters :
    ・Setup time, hold time, start and stop condition
    ・Clock high and low states
    ・Address width (7 and 10 bits)
    ・Nack condition
SPI
  • Data width : 8 bits
  • programmable parameters :
    ・phase, polarity
    ・anti tearing
Synchronous chips
  • Support of all kind of memory components (SLE 46xx, T2G, …)
    Raw mode
  • Implementation of custom protocols and support of out of standard chips

物理パラメータ(すべてのタイプ)

Voltages

-Vcc : Adjustable from 0V to 10V
-Vol/Voh :
+0V to 5V / 1V to 7V
+All pins can be adjusted independently
-Vil/Vih :
– 0.2V to 5V / 1V to 6.8V

Clock frequency

-ISO 7816 clock :
+Adjustable from 10kHz to 10Mhz
+Duty cycle : can be adjusted from 30% to 70%
-SPI clock :
-Adjustable up to 25MHz
-Pin states
+All pins can be managed separately

ISO 7816 communication parameters

-Adjustable parameters : All normative timings (WWT, BWT, CWT, …), parity, pull-up resistor

  • SWP communication parameters
Available baudrates :

– Any baudrate from 49kbps to 1,9Mbps
– SWP duty cycle adjustable from 0% to 50%
– Adjustable parameters : Activation time, P2, P3 parameters, current detection level

USB-IC parameters

-Voltage classes supported : 1.8V and 3.0V

スパイ機能

 

Accuracy : 20 ns
Signals displayed :

– All 8 pins (C1 C2 C3 C4 C6 C7 C8)
– SWP S1, S2
– USB
– Bytes
– Frames
– Trigger states

I2C start and stop conditions, ACK/NACK, SDA/SCL transitions
SPI SCK, MOSI, LISO, SS transitions
Analog information (current, voltage measurement)

利用可能な試験

Electrical tests

– Open/short test (on all contacts,current forced can be adjusted)
– Leakage current (all contacts)
– Voltage measurement (all contacts, static, dynamic, burst mode)
– Current measurement (all contacts, static, dynamic, burst mode)
– Parametric tests (V=f(I), I=f(V))
– SWP specific measurement (statistics on SWP S2 current values)

Logical tests

– Anti tearing (checks the chip’s integrity against accidental removing from the reader)
– All timing measurement
– ISO 7816 and SWP concurrent I/O testing : send frames in ISO and SWP simultaneously

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