MP300 CL3
非接触オブジェクト用ハイエンド生産テスター

MP300 CL3は、従来のMP300 CL2とMT1の成功を基に、非接触オブジェクト用のハイエンド生産テスターを市場に提供します。 このツールは、先祖のテスト機能をさらに向上させ、すべてのモード(リーダーモードとカードシミュレーションモード)でNFC電話機の品質を保証するために必要なすべてのテストを実行する可能性を追加します。

  • 主な機能
  • 対応プロトコル
  • パラメータ
  • 利用可能な試験

主な機能のMP300 CL3

  • 非接触型スマートカード、RFIDタグ、M2Mモジュール、チップオンチップ(COT)マイクロモジュール、NFCデバイスの製造におけるテスト
  • ISO 14443 A / B、ISO 15693、FeliCaTM、MifareTM、B ‘(Innovatron)、およびすべてのNFCフォーラムのタグ
  • ASKモードとPSKモードの両方での高速通信(VHBR)の適用範囲
  • テストパラメータ(電界強度、立ち上がり/立ち下がり時間、変調指数、負荷変調振幅(スマートカードシミュレーション)、DUTフィールドの負荷(スマートカードシミュレーション)
  • 実装された多数のテスト(共振周波数、Qファクタ、複素インピーダンス、電界強度測定、…)
  • ID-1スマートカード、M2Mモジュール、コンポーネントテープ(COT)、NFCデバイスなどのフォームファクタをテストし、パーソナライズするための理想的なツール
  • 開いているAPIのおかげで簡単にコントロールできます
  • デュアルPCDモード-PICCモード・モデルを含む多数のアンテナが利用可能
  • モジュール性:同じMP300マザーボード上に2つのMP300 CL3を持つ可能性
    モジュール性:デュアルインタフェースマイクロモジュールのテスト用にMP300 C3とともにMP300 CL3をインストールする可能性
  • SAMカードリーダーの有無
  • マスターカードCQMテスト要件を実行するための理想的なツール
  • WPC仕様に準拠した生産現場のパワートランスミッタのテスト準備ツール

対応プロトコル

ISO/IEC 14443 (proximity)
– Supported data rates :
– 106, 212, 424, 848 kbps
– VHBR optionnal. Support of ASK and PSK modulations
– Asymetrical baudrates supported

B’ (Innovatron)


ISO/IEC 15693 (Vicinity cards)

– Supported data rates :
– Low & high data rate
– 1 out of 4, 1 out of 256
– Tag behaviour
– 1 sub carrier
– 2 sub carriers

ISO 18000-3 Mode 1

MifareTM
– Supported versions : Classic, Light, Ultra Light, Ultra Light C, Desfire

FeliCaTM
– Supported data rates : 212, 424 kbps

NFC Forum modes
– Peer 2 Peer, Listening, Polling

NFC Forum tag
– Tag type 1 (Innovision Topaz)
– Tag type 2 (Mifare Ultra Light)
– Tag type 3 (FeliCa)
– Tag type 4 (ISO 14443 A/B)

ISO 18092 (NFC-IP1)
– Supported communication mechanisms : Active/passive mode, initiator/target

Raw mode
– Possibility to implement custom protocols

プログラム可能なパラメータ

Physical parameters (all types)
– Field strength
– Rise/fall time of the modulation
– Modulation index
– Pause time (ISO 14443 A & ISO 15693)
– Duration of each bit + EOF + SOF (ISO 14443 A)
– Load modulation amplitude (contactless smart card simulation)
– Load on the reader field (contactless smart card simulation)

Logical parameters
– Type A pause
– FWT, TR0, TR1, TR2
– Communication speed
– Response time (contactless smart card simulation)

利用可能な試験

Electrical testing
– Resonance frequency / Q factor :
– Bandwidth : 11 MHz to 22 MHz
– Measurement made in loaded and unloaded manner
– Complex impedance
– Resistor, Inductance, Capacitance
– Direct computation of Rp//Cp
– Measurement of chip and antenna impedance
– Open/short testing
– Magnetic field measurement (contactless smartcard simulation)

Logical testing

– Numerous timing controlled pre-implemented sequences (ex : Field on to REQA/REQB)
– Anti-tearing test
– Framing (parity error simulation, CRC error, protocol error, timing (short response, long response, …)

Related posts