MP300 C3+CL3
デュアルインターフェイス スマートカードテスター

MP300 C3 / CL3は、デュアルインターフェイススマートカードおよびスマートオブジェクトのテストおよび(事前)パーソナライゼーションに関連するタスクのマーケットリーダーです。 主要なスマートカードやチップメーカーの工場で使用されていたこのツールは、生産性の高い制約、すなわちスループット、信頼性、効率性を完全に統合しました。

  • 主な機能
  • 対応プロトコル
  • なパラメータ
  • 利用可能な試験

MP300 C3+CL3の主な機能

  • ISO 7816、SWP / HCI(ETSI TS 102.613およびETSI TS 102.622)、USB 2.0
  • ISO 14443 A / B、ISO 15693、FeliCaTM、MifareTM、B ‘(Innovatron)、およびすべてのNFCフォーラムタグ
  • ASKモードとPSKモードの両方での高速通信(VHBR)の適用範囲
  • テストパラメータ(電圧、クロック周波数、電界強度など)の定義に非常に柔軟性があります。
  • オープン/ショート、リーク、消費、駆動力、パラメトリックテスト、共振周波数、Q係数などを実行します。
  • ID-1スマートカード、SIM(マイクロSIM、ナノSIM)、M2Mモジュール、コンポーネントテープなどのフォームファクタをテストしパーソナライズするのに最適なツール
  • 開いているAPIのおかげで簡単にコントロールできます
  • モジュラー構造:1台のMP300マザーボードに最大2台のMP300 C3 / CL3を搭載可能
  • デュアルPCDモード-PICCモード・モデルを含む多数のアンテナが利用可能
  • SAMカードリーダーの有無

対応プロトコル

ISO/IEC 7816-3
– T=0 and T=1 protocols : 100% implemented, managed by Firmware and FPGA, accelerated by hardware

SWP/HCI (ETSI TS 102.613 and ETSI TS 102.622)
– SWP transmission : Assisted by hardware
– LLC layers support : ACT, CLT, S-HDLC realised by firmware

USB 2.0
– Available speeds : Low speed, full speed
– Classes : ISO/IEC 7816-12, mass storage, custom protocols

Synchronous chips
– Support of all kind of memory components (SLE 46xx, T2G, …)

ISO/IEC 14443 (proximity)
– Supported data rates :
– 106, 212, 424, 848 kbps
– VHBR optionnal. Support of ASK and PSK modulations
– Asymetrical baudrates supported

B’ (Innovatron)

ISO/IEC 15693 (Vicinity cards)
– Supported data rates :
– Low & high data rate
– 1 out of 4, 1 out of 256
– Tag behaviour :
– 1 sub carrier
– 2 sub carriers

ISO 18000-3 Mode 1

MifareTM
– Supported versions : Classic, Light, Ultra Light, Ultra Light C, Desfire

FeliCaTM
– Supported data rates : 212, 424 kbps

NFC Forum modes
– Peer 2 Peer, Listening, Polling

NFC Forum tags
– Tag type 1 (Innovision Topaz)
– Tag type 2 (Mifare Ultra Light)
– Tag type 3 (FeliCa)
– Tag type 4 (ISO 14443 A/B)

ISO 18092 (NFC-IP1)
– Supported communication mechanisms : Active/passive mode, initiator/target

Raw mode
– Possibility to implement custom protocols

プログラム可能なパラメータ

Physical parameters (contact interface)
– Voltages
– Vcc : Adjustable from 0V to 10V
– Vol/Voh : 0V to 5V / 1V to 7V
– Vil/Vih : 0.2V to 5V / 1V to 6.8V
– Clock frequency
– ISO 7816 clock :
– Adjustable from 10kHz to 20Mhz
– Duty cycle : can be adjusted from 30% to 70%

Pin states
– All pins can be managed separately

ISO 7816 communication parameters
– Adjustable parameters : All normative timings (WWT, BWT, CWT, …), parity, pull-up resistor

SWP communication parameters
– Available baudrates : 106 kbps, 212 kbps, 424 kbps, 848 kbps, 1,6Mbps
– Adjustable parameters : Activation time, P2, P3 parameters, current detection level

Physical parameters (contactless interface)
– Field strength
– Rise/fall time of the modulation
– Modulation index
– Pause time (ISO 14443 A & ISO 15693)
– Duration of each bit + EOF + SOF (ISO 14443 A)
– Load modulation amplitude (contactless smartcard simulation)
– Load on the reader field (contactless smartcard simulation)

Logical parameters
-Type A pause
– FWT, TR0, TR1, TR2
– Communication speed
– Response time (contactless smartcard simulation)

利用可能な試験

lectrical tests (contact interface)
– Open/short test (on all contacts,current forced can be adjusted)
– Leakage current (all contacts)
– Voltage measurement (all contacts, static, dynamic, burst mode)
– Current measurement (all contacts, static, dynamic, burst mode)
– Parametric tests (V=f(I), I=f(V))
– SWP specific measurement (statistics on SWP S2 current values)

Logical tests
– ISO 7816 and SWP concurrent I/O testing : send frames in ISO and SWP simultaneously

Electrical testing (contact interface)
– Resonance frequency / Q factor :
– Bandwidth : 11 MHz to 22 MHz
– Measurement made in loaded and unloaded manner
– Complex impedance :
– Resistor, Inductance, Capacitance
– Measurement of chip and antenna impedance
– Direct computation of Rp//Cp
– Open/short testing
– Magnetic field measurement (contactless smartcard simulation)

Logical testing
– Numerous timing controlled pre-implemented sequences (ex : Field on to REQA/REQB)
– Anti-tearing test
– Framing (parity error simulation, CRC error, protocol error, timing (short response, long response, …)

Related posts